| 產品型號: |
EX-3000 |
|
|
|
| |
品牌:日本電測 |
|
|
|
| 產品簡介: |
|
|
|
|
|
| |
nok="f" gradientshapeok="t" o:connecttype="rect">
| 本機能精確測量極細小物件鍍膜厚度,可進行單層及多層膜厚測定、合金膜厚成份比同時測定及無素的光譜峰值測定分析。 |
|
|
|
|
|
| 主要技術參數: |
|
|
|
|
| |
儀器特點: |
|
|
|
| |
搭載MS-WINDOWS系統(優越的操作性與高精度測定) |
|
| |
使用與IBM PC兼容個人電腦,采用MS-WINDOWS軟體,使用時多彩多姿。 |
| |
采用二種濾波器 |
|
|
|
| |
用用數位式濾波器外另有機械式濾波器(兩種濾波器),在測定時,若是*適當的條件下, |
| |
經常可得到*高的精度。 |
|
|
| |
準值儀5種孔徑內藏式 |
|
|
|
| |
*小的準值儀孔徑僅0.1 mm,可測定極微小的部品。 |
|
| |
標準:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另備有2種特別規格可供選購。 |
| |
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5 |
|
|
|
| |
0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5 |
|
|
|
| |
|
|
|
|
|
| |
自動測定測量臺 |
|
|
|
| |
利用鼠標來調整測量位置,非常敏捷快速。或是測量位置已完成登陸時,可連續自動測定, |
| |
利用座標補正、連結頻道,來應付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標準片校正。 |
| |
優越的顯示機能 |
|
|
|
| |
測定部顯示盡像的表示 |
|
|
|
| |
X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準儀照射測定物的位置,可由倍率 |
| |
率更機能來實現盡面上測出物放大。 |
|
|
| |
在膜厚測定中的能譜表示 |
|
|
| |
由多頻分析器可快速處理能譜分析。可執行測定物的能譜分析表示,操作簡單。 |
| |
提長資料處理的速度 |
|
|
|
| |
充實測量報告的作成機能 |
|
|
| |
采用MS-WINDOW軟件,測定畫的擷取,非常簡便,可充襯測量報告的制作機能。可同時間 |
| |
隔處理多項工作,機器在測量中亦可處理其它工作:包括如測量報告的制作。 |
| |
測定物膜厚附著分布表示 |
|
|
| |
以三次元圖案來表示測定物膜厚附著狀態的分布,作判定時一目了然。 獲得安心的*保*性。 |
| |
自己診斷機能及X線管保食機能 |
|
|
| |
自己診斷機能,迅速的對策來排除機器的因擾。附有X線管的使用時間及耐久時間表示機能, |
| |
可加強保養的安全性。 |
|
|
|
| |
儀器詳細介紹: |
|
|
|
| |
1. X線源:油浸式1.2mA小型微小焦點X線管. 50kV管電壓,可變管電壓。 |
| |
2. 照射方式:由上而下垂直照射方式。 |
|
| |
3. 檢出器:比例計數管。 |
|
|
| |
4. 濾波器:采用 Co 和 Ni 雙濾波器及數字式濾波器,可單一或同時使用。 |
| |
5. 準直儀:Collimator 采用五種孔徑一體成型式,可自動切換使用。 |
| |
0.1,0.2,0.5,1.0,2.0φL. |
|
|
| |
(選購) 0.05×0.5,0.05,0.1,0.2,0.5φL. |
|
| |
(選購) 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5φL. |
|
| |
6. 樣品觀測系統:彩色CCD及高畫質顯示屏。 |
|
| |
7. 多能譜分析器:使用256高頻分析器,光譜自動分析,在執行測量及運算時,非常快速。 |
| |
貳. 計算機操作部: |
|
|
|
| |
8. 計算機系統:(※僅供參考) |
|
|
| |
IBM 兼容中文個人計算機. |
|
|
| |
CPU:Intel Celeron 1GHz. |
|
|
| |
RAM:128 MB. |
|
|
|
| |
Floppy Disk:3.5 ×1, 40倍速 CD-ROM ×1. |
|
| |
Hard Disk:40 GB. |
|
|
|
| |
17" 高畫質顯示屏. |
|
|
|
| |
EPSON彩色噴墨式打印機。 |
|
|
| |
9. 本機型(CO**OS-1X系列)之操作系統采中文窗口(Windows98)對話式操作,非常簡便。 |
| |
-1- |
|
|
|
|
| |
參. 特性說明: |
|
|
|
| |
10. 測量項目: |
|
|
|
| |
單層膜厚測定. |
|
|
|
| |
2層膜厚測定. |
|
|
|
| |
3層膜厚測定. |
|
|
|
| |
無電解鎳膜厚測定. |
|
|
|
| |
合金膜厚成份比同時測定. |
|
|
| |
元素的光譜峰值測定分析. |
|
|
| |
11. 測量材質:原子序22(Ti) ~ 82(Pb)為激發法測量。 原子序22以下為吸收法測量。 |
| |
12. 測量范圍:原子序22 ~ 24 , 約 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 , 約 0.1 ~ 30 um. 原子序 |
| |
41 ~ 51 , 約 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 , 約 0.05~ 10 um. |
| |
13. 測量機能: |
|
|
|
| |
同一點重復測定機能 |
|
|
| |
輸出形式設定. |
|
|
|
| |
能譜測定. |
|
|
|
| |
14. 測量條件或膜厚規格可以保存. |
|
|
| |
當要測量相同的制品時,若測量條件已儲存,可以馬上進行測量。 |
| |
*大檢量線檔案數:可登錄儲存100組檔案。 |
|
| |
*大測量檔案數 :可登錄儲存300組檔案。 |
|
| |
15. 檔案記錄: |
|
|
|
| |
每一個批號可儲存無限個測量數據.(因所使用的計算機之容量大小而定) |
| |
每一個測量檔案可輸入及儲存公司名稱. |
|
| |
每個批號可單獨執行統計處理. |
|
|
| |
-2- |
|
|
|
|
| |
每個測量檔案可輸入不同的檢量線(校正曲線). |
|
| |
16. 數據處理: |
|
|
|
| |
統計值表示:平均值、標準偏差、*大值、*小值、上下限值范圍、Cp、Cpk。 |
| |
X-R 管制圖. |
|
|
|
| |
柱狀圖:有自動設定及自己任意設定二種方式。 |
|
| |
可彩色打印觀物顯示屏上所觀測之圖像。 |
|
| |
17. 底材補正:當樣品與標準片的底材不同時,可作底材補正。 |
| |
18. 觀物顯示屏:十字刻度線的高分辨率彩色觀物顯示屏。 |
| |
肆. 安全裝置. |
|
|
|
| |
19. 本機俱有自動安全斷電系統功能. |
|
|
| |
20. 由鎖匙開關來控制X 線輸出,以防止外人任意操作. |
|
| |
伍. 其它機能. |
|
|
|
| |
21. 密碼辨識功能 |
|
|
|
| |
22. 裝置維護調整. |
|
|
|
| |
23. 測量部主機: 尺寸:362(W) ×425(D) ×486(H) L. |
| |
重量:約 44.2 Kg. |
|
|
|
| |
24. 操作部:(※僅供參考) |
|
|
| |
計算機尺寸:180(W) ×420(D) ×360(H) L. |
|
| |
重量:約 8.8 Kg. |
|
|
|
| |
顯示屏尺寸:360(W) ×420(D) ×370(H) L. |
|
| |
重量:約16.5 Kg. |
|
|
|
| |
打印機尺寸:500(W) ×250(D) ×300(H) L. |
|
| |
重量:約 4.3 Kg. |
|
|
|
| |
-3- |
|
|
|
|
| |
柒. X-Y-Z軸可移動式測量臺. |
|
|
| |
25. 測量臺尺寸及移動量. |
|
|
| |
測量臺尺寸 170 (W) ×100 (D) L |
|
| |
移動量(X-Y-Z軸) 70 ×70 ×50 L. |
|
| |
26. 測量樣品限制. |
|
|
|
| |
樣品限制高度: 45L |
|
|
|
| |
樣品限制重量: 3 Kg. |
|
|
| |
捌. 使用電源. |
|
|
|
| |
27. 電壓: AC100V ±10V ; 50/60Hz |
|
| |
(選購) AC110V, AC220V. |
|
|
| |
28. 容量: 700V |
|
|
|